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伊藤 孝雄; 堀池 寛; 松岡 守; 松田 慎三郎; 小原 祥裕; 奥村 義和; 蔀 守正; 竹内 浩; 田中 茂; 塚原 美光; et al.
JAERI-M 86-114, 71 Pages, 1986/08
JT-60プラズマ中心部のイオン温度を計測する能動粒子線法において、使用する中性ヘリウム粒子入射装置(能動粒子線装置)のイオン源には、エネルギ-20keV、ビ-ム電流3.5A,ビ-ムの発散角0.4度以下の性能が要求されている。このようなイオン源は世界的に例がなくイオン源技術の限界に近いものであった。しかし、これは中性粒子入射加熱装置で培った技術の延長線上にあり、開発可能なものと考えられた。昭和55年、計測開発室に協力して設計に着手し、昭和58年 JT-60への据付に先立って、開発を行ないやすくする為 能動粒子線装置を試験室に建設した。昭和60年9月、要求を遥かに上回る性能のイオン源開発に成功した。また、電源の調整試験、ビ-ムラインの性能試験も行ない、本装置を計測器として十分使用に耐えるものに改良した。本報告書では、本装置の設計や試験及び開発の結果について述べる。
渡部 和弘; 伊藤 孝雄; 金井 丈雄*; 松岡 守; 松田 慎三郎; 蔀 守正; 塚原 美光; 薄井 勝富
JAERI-M 86-104, 53 Pages, 1986/07
JT-60プラズマ中心部のイオン温度測定に能動粒子線計測法が用いられる。能動粒子線源として200keV、3.5A、0.1秒という高エネルギ-でか大電流のヘリウムイオンビ-ム発生装置を開発した。JT-60へ装着するに先立ち、能動粒子線試験室に本装置を建設し開発試験および改良を行なった結果、定格出力のビ-ムを繰り返して安定に得られるようになった。本報告では、まず、本装置の電源システムの構成を示す。次にイオン源放電破壊時に発生するサ-ジ電圧の伝播による電源システムの誤動作に関する防止対策について述べる。さらに、ビ-ムを繰り返し安定に得る為に実施したサ-ジ電流低減策について、サ-ジ測定とシュミレ-ションとの対比を踏まえながら述べる。最後に、JT-60へ装着時のサ-ジ伝播をシュミレ-ションによって検討したので併せて記述する。